Библиотека статей и обзоров

  • Зондовая станция Access DH Prober

    Зондовая станция Access DH Prober

    Зондовая станция Huntron Access DH Prober (с двумя зондами) открывает новые возможности для проведения роботизированной диагностики печатных плат. Поддержка второго измерительного зонда (второй измерительной точки), позволяет автоматизировать процесс измерений точка-точка, значительно увеличить скорость и эффективность диагностики.

    Статьи
  • Анализаторы сигнатур Tracker Model 30 и TrackerPXI

    Анализаторы сигнатур Tracker Model 30 и TrackerPXI

    Сигнатурные анализаторы серии Tracker обеспечивают генерацию тестового сигнала, который подается между двумя точками диагностируемой печатной платы. Параметры тестового сигнала, такие как напряжение, частота и сопротивление (внутреннего источника), могут настраиваться пользователем для получения оптимальных аналоговых сигнатур диагностируемых компонентов/цепей/ИС. Модель анализатора Tracker Model 30 может быть встроена в зондовую станцию для получения измерительного решения «все в одном»

    Статьи
  • Программное обеспечение Huntron Workstation

    Программное обеспечение Huntron Workstation

    Программное обеспечение Huntron Workstation обеспечивает непревзойденный уровень эффективности и гибкости при создании процедур диагностики и локализации дефектов печатных плат. Разнообразные функции ПО Huntron Workstation обеспечивают создание тестовых процедур, быстрый просмотр сигнатур компонентов, управление робототизированными зондами и синхронизированный просмотр схемы печатной платы.

    Статьи
  • Примеры диагностики с помощью метода ASA. Часть 9

    Примеры диагностики с помощью метода ASA. Часть 9

    В приведенном ниже примере демонстрируются отклонения сигнатур, обнаруженные на реальной печатной плате. Неисправность заключается в том, что емкость, которая показана на сигнатуре зеленым цветом (эллиптическая сигнатура), отсутствует на сигнатуре, которая показана красным цветом и больше соответствует сигнатуре диода.

    Статьи
  • Тестирование интегральных схем (ИС) методом ASA. Часть 8

    Тестирование интегральных схем (ИС) методом ASA. Часть 8

    Одной из основных тенденций в современной электронике является необходимость сделать все как можно меньше. Если раньше цифровые схемы изготавливались при помощи дискретной элементной базы, то сегодня сотни таких схем помещаются в одном маленьком чипе. Такая тенденция будет только усиливаться, поэтому важно понимать, как аналоговый сигнатурный анализ может быть использован для такого типа устройств.

    Статьи
  • Тестирование устройств переключения методом ASA. Часть 7

    Тестирование устройств переключения методом ASA. Часть 7

    Переключателями обобщенно называют электрические устройства, которые позволяют или не позволяют течь току по цепи. В терминах электроники, «переключением» считается базовая функция, которая может выполняться множеством устройств. Все эти устройства схожи в том, что они могут быть либо во включенном, либо в выключенном состоянии. Отличаются они только тем, как реализован механизм переключения.

    Статьи
  • Тестирование транзисторов методом ASA. Часть 6

    Тестирование транзисторов методом ASA. Часть 6

    Биполярные транзисторы состоят из трех областей, две из которых изготовлены из одного типа полупроводника. PNP-транзистор имеет область N-типа, которая размещена между двумя областями P-типа. А NPN-транзистор имеет область P-типа, которая размещена между двумя областями N-типа.

    Статьи
  • Тестирование диодов методом ASA. Часть 5

    Тестирование диодов методом ASA. Часть 5

    Полупроводниковые диоды являются базовыми строительными блоками всех других типов полупроводниковых устройств (т.е. транзисторов, интегральных схем и т.д.). Диод функционирует на основе свойств P-N перехода, изготовлен из полупроводников N-типа и P-типа. Диод обладает полярностью и проводит электрический ток только в одном направлении.

    Статьи
  • Тестирование катушек индуктивности методом ASA. Часть 4

    Тестирование катушек индуктивности методом ASA. Часть 4

    Также как и при рассмотрении параметров конденсаторов, зависимость между величиной напряжения, тока и параметром индуктивности не является линейной. В индуктивной цепи, между напряжением и током существует фазовый сдвиг, причем ток отстает от напряжения. Эта «временная задержка» является функцией индуктивной реактивности, при которой напряжение опережает ток.

    Статьи
  • Тестирование конденсаторов методом ASA. Часть 3

    Тестирование конденсаторов методом ASA. Часть 3

    В отличие от резистивных цепей, зависимость между приложенным напряжением, током и параметром емкости не является линейной. В емкостной цепи, значение тока достигает максимального значения в момент нулевого значения напряжения. И наоборот, значение напряжения достигает максимального значения в момент нулевого значения тока.

    Статьи

Страницы

Ctrl предыдущая следующая Ctrl
  • 1
  • 2